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    高精度能量色散X熒光硫含量分析儀的自動定性分析

    點擊次數:154 發布時間:2022-01-21
     
      高精度能量色散X熒光硫含量分析儀采用世界上先進的硅SIPIN探測器(分辨率為150ev),實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管,大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距,從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率,同時減少了漫射光的干擾,大大地提高了靈敏度和讀數的準確性,重復性。
     
      在測定微量成分時,由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出最具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
     
      高精度能量色散X熒光硫含量分析儀的自動定性分析:
     
      A、自動過濾背景
     
      X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,
     
      從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
     
      B、自動剝離重疊峰
     
      當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由
     
      此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
     
      C、自動補償逃逸峰
     
      逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素
     
      的含量較高(能量也會相應的較高),其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖在該元素的能量
     
      值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。
     
      D、自動追蹤譜圖漂移
     
      在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
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